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消息稱(chēng)蘋(píng)果正測(cè)試 ALD 工藝,為下一代 iPhone Pro 鏡頭添加抗反射光學(xué)涂層

  • IT之家 4 月 16 日消息,消息源 yeux1122 近日在其 Naver 博客上曝料,表示從蘋(píng)果供應(yīng)鏈處獲悉,蘋(píng)果正測(cè)試新的抗反射光學(xué)涂層技術(shù),可以減少鏡頭炫光和鬼影等偽影,從而提高照片質(zhì)量。供應(yīng)鏈消息稱(chēng)蘋(píng)果正在考慮在 iPhone 相機(jī)鏡頭制造工藝中,引入新的原子層沉積(ALD)設(shè)備。原子層沉積(Atomic layer deposition,ALD)是一種基于連續(xù)使用氣相化學(xué)過(guò)程的薄膜沉積技術(shù),將物質(zhì)以單原子膜形式逐層鍍?cè)谝r底表面的方法。ALD 是一種真正的納米技術(shù)
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建設(shè)高端半導(dǎo)體裝備,SRII賦能新一代集成電路制造

  • 思銳智能攜業(yè)界尖端的離子注入(IMP)和原子層沉積(ALD)技術(shù)亮相SEMICON China 2024,持續(xù)建設(shè)全球一流的高端半導(dǎo)體制造裝備,廣泛賦能集成電路、第三代半導(dǎo)體等諸多高精尖領(lǐng)域。展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)精彩瞬間思銳智能離子注入機(jī)(IMP)模型根據(jù)SEMI的數(shù)據(jù),受芯片需求疲軟等影響,2023年全球半導(dǎo)體設(shè)備銷(xiāo)售額為1056億美元,同比下降1.9%,而中國(guó)大陸地區(qū)半導(dǎo)體設(shè)備銷(xiāo)售額同比增長(zhǎng)28.3%。中國(guó)對(duì)成熟節(jié)點(diǎn)技術(shù)表現(xiàn)出了強(qiáng)勁的需求和消費(fèi)能力。縱觀(guān)全局,離子注入已成為半導(dǎo)體器件制備中最主要的摻雜方法,是最基
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立足產(chǎn)業(yè)發(fā)展新階段,思銳智能以先進(jìn)ALD技術(shù)拓展超摩爾時(shí)代新維度

  • 日前,以“凝聚芯合力,發(fā)展芯設(shè)備”為主題的第十屆(2022)中國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備年會(huì)(CSEAC)在無(wú)錫太湖國(guó)際博覽中心隆重召開(kāi)。中國(guó)集成電路創(chuàng)新聯(lián)盟秘書(shū)長(zhǎng)、中國(guó)半導(dǎo)體協(xié)會(huì)集成電路分會(huì)理事長(zhǎng)葉甜春在致辭中強(qiáng)調(diào),中國(guó)集成電路發(fā)展到現(xiàn)在,確實(shí)需要進(jìn)入新的階段。這帶來(lái)的變化就是從被動(dòng)到主動(dòng)的變化。如今,既然我們有自己的體系,就需要從系統(tǒng)應(yīng)用、設(shè)計(jì)、制造、封測(cè)、裝備、裁量、零部件形成內(nèi)循環(huán),然后對(duì)接國(guó)際資源構(gòu)建國(guó)內(nèi)國(guó)際雙循環(huán),最終主動(dòng)打造一個(gè)以我為主的全球化的新生態(tài)。在百年未有之大變局下,半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)同樣迎接巨變。隨著半
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創(chuàng)新,引領(lǐng)未來(lái)

  • 原子層沉積(ALD, Atomic Layer Deposition)工藝,是當(dāng)前及未來(lái)工藝節(jié)點(diǎn)相關(guān)的收縮及更復(fù)雜器件幾何形狀上沉積薄層材料的關(guān)鍵技術(shù)。如今,隨著技術(shù)節(jié)點(diǎn)以驚人的速度持續(xù)進(jìn)步,精確而又高效地生成關(guān)鍵器件特征成為了一項(xiàng)持久的挑戰(zhàn)。 原子層沉積工藝依靠專(zhuān)業(yè)的高性能原子層沉積閥在數(shù)百萬(wàn)個(gè)脈沖中輸送精確的化學(xué)品劑量,構(gòu)建形成材料層。為了達(dá)到原子級(jí)精密度和高生產(chǎn)良品率,輸送這些脈沖式化學(xué)品劑量的閥門(mén)必須日益精確且一致。世偉洛克一直致力于此,不斷刷新ALD閥使用壽命、響應(yīng)時(shí)間、高溫高流量應(yīng)用
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原子級(jí)工藝實(shí)現(xiàn)納米級(jí)圖形結(jié)構(gòu)的要求

  • 原子層刻蝕和沉積工藝?yán)米韵扌苑磻?yīng),提供原子級(jí)控制。泛林集團(tuán)先進(jìn)技術(shù)發(fā)展事業(yè)部公司副總裁潘陽(yáng)博士?分享了他對(duì)這個(gè)話(huà)題的看法。圖 1.?原子層工藝中的所有半周期反應(yīng)是自限性反應(yīng)。技術(shù)節(jié)點(diǎn)的每次進(jìn)步都要求對(duì)制造工藝變化進(jìn)行更嚴(yán)格的控制。最先進(jìn)的工藝現(xiàn)在可以達(dá)到僅7 nm的fin寬度,比30個(gè)硅原子稍大一點(diǎn)。半導(dǎo)體制造已經(jīng)跨越了從納米級(jí)到原子級(jí)工藝的門(mén)檻。工程師現(xiàn)在必須關(guān)注結(jié)構(gòu)的尺寸變化,僅相當(dāng)于幾個(gè)原子大小。由于多重圖案模式等復(fù)雜集成增加了工藝數(shù)量,進(jìn)一步限制了每個(gè)步驟允許的變化。3D N
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國(guó)內(nèi)首臺(tái)集成電路ALD設(shè)備進(jìn)駐上海集成電路研發(fā)中心

  •   近日,由北方華創(chuàng)下屬子公司北方華創(chuàng)微電子自主研發(fā)的國(guó)內(nèi)首臺(tái)12英寸原子層沉積(AtomicLayerDeposition,ALD)設(shè)備進(jìn)駐上海集成電路研發(fā)中心。北方華創(chuàng)微電子為國(guó)產(chǎn)高端裝備在先進(jìn)集成電路芯片生產(chǎn)線(xiàn)的應(yīng)用再添新秀。   ALD設(shè)備是先進(jìn)集成電路制造工藝中必不可少的薄膜沉積設(shè)備,ALD工藝具有工藝溫度低、薄膜厚度控制精確及臺(tái)階覆蓋率高等優(yōu)點(diǎn)。在集成電路特征線(xiàn)寬發(fā)展到28納米節(jié)點(diǎn)后,ALD工藝應(yīng)用日益廣泛。北方華創(chuàng)微電子自2014年開(kāi)始布局ALD設(shè)備的開(kāi)發(fā)計(jì)劃,歷時(shí)四年,成功推出中國(guó)首臺(tái)應(yīng)
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ALD技術(shù)在未來(lái)半導(dǎo)體制造技術(shù)中的應(yīng)用

  • 由于低溫沉積、薄膜純度以及絕佳覆蓋率等固有優(yōu)點(diǎn),ALD(原子層淀積)技術(shù)早從21世紀(jì)初即開(kāi)始應(yīng)用于半導(dǎo)體加工制造。DRAM電容的高k介電質(zhì)沉積率先采用此技術(shù),但近來(lái)ALD在其它半導(dǎo)體工藝領(lǐng)域也已發(fā)展出愈來(lái)愈廣泛的應(yīng)用。
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液化空氣集團(tuán)電子氣業(yè)務(wù)加強(qiáng)高介電常數(shù)鋯基前驅(qū)體的專(zhuān)利保護(hù)

  •      液化空氣集團(tuán)電子氣業(yè)務(wù)線(xiàn)近日宣布,其應(yīng)用于半導(dǎo)體制造的前驅(qū)體ZyALD已獲得中國(guó)專(zhuān)利局授予的相關(guān)專(zhuān)利,從而使中國(guó)成為了繼韓國(guó)、新加坡、中國(guó)臺(tái)灣以及部分歐洲國(guó)家之后又一獲得該項(xiàng)專(zhuān)利的國(guó)家。此外,相關(guān)專(zhuān)利的申請(qǐng)工作在其他國(guó)家及地區(qū)也預(yù)期順利。ZyALD及其它類(lèi)似分子應(yīng)用于高介電常數(shù)沉積鍍膜,該工藝目前已在全球范圍內(nèi)獲得11項(xiàng)專(zhuān)利,另有13項(xiàng)專(zhuān)利正在申請(qǐng)中。   ZyALD是上述已獲專(zhuān)利的系列分子中一種重要的鋯前驅(qū)體(功能分子)。該分子能夠在半導(dǎo)體制造工藝中,實(shí)現(xiàn)高溫條
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ASM:邁入FinFET將需要全方位ALD方案

  •   半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)正在轉(zhuǎn)換到3D結(jié)構(gòu),進(jìn)而導(dǎo)致關(guān)鍵薄膜層對(duì)高速原子層沉積(ALD)的需求日益升高。過(guò)去在平面元件中雖可使用幾個(gè) PVD 與 CVD 步驟,但就閘極堆疊的觀(guān)點(diǎn)而言,過(guò)渡到 FinFET 元件將需要全方位的 ALD 解決方案。   就 FinFET 而言,以其尺寸及控制關(guān)鍵元件參數(shù)對(duì)后閘極 (gate last) 處理的需求來(lái)說(shuō),在 14 奈米制程必需用到全 ALD 層。半導(dǎo)體設(shè)備大廠(chǎng) ASM International (ASMI) 針對(duì)此一趨勢(shì),與《電子工程專(zhuān)輯》談到了ALD 技術(shù)在先進(jìn)半導(dǎo)
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ALD中射頻阻抗匹配器的設(shè)計(jì)與研究

  • 摘要:闡述原子層沉積系統(tǒng)(ALD)中射頻阻抗匹配器的設(shè)計(jì)方案。利用ADS軟件對(duì)阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行仿真,通過(guò)分析ALD真空腔室內(nèi)等離子體產(chǎn)生前后的負(fù)載阻抗變化,結(jié)合仿真結(jié)果,提出等離子體產(chǎn)生過(guò)程中阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)的控制方
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